出版AOI

设备特点

· 精准数控式组合光源,千万像素级工业CCD及镜头

· 设备小巧、系统稳定、操作简单,具有和迈为、科隆威、捷佳创等印刷厂商配套经验

· 在线式检测,可与产线MES无缝连接

· 非接触式光学AOI检测,可以快速且可靠地检测出更类印刷异常,第一时间发现网板或者浆料等设备定位的问题,避免出现批量电池片印刷降级

· 采用多等级检测结果处理条件,可针对不同的检测项目设置不同的处理,报警提示或停机处理


项目规格

适用Wafer尺寸

156*156mm- 170*170mm
适用Wafer类型单晶、多晶,金刚线单晶、多晶,PERC电池片
最高产能

3800PCS/小时

像素精度<0.047mm

检测缺陷精

<0.09mm
UPTime

>98%

误判率<1%

漏报率

<0.1%


设备外观&安装图

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成像效果

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