成品AOI

设备特点

· 精准数控式积分曲面RGB无影光源

· 全进口千万像素级工业相机及镜头

· 设备结构高度集成,安装维护方便,界面易操作

· 在线式检测,可与产线MES无缝连接

· 三色算法真实还原电池片颜色,实现电池片高精度颜色分选;

· 人工智能技术实现电池片缺陷分类;

· 大数据分析缺陷分布和缺陷电池片分布规律


彩色成像方案:使用黑白CCD芯片+RGB光源(同GP)

· 红、绿、蓝感光像素数均为2千5百万

· 真色彩还原,感光度高,对比度好

· 天然黑白模式,颜色检验更准确、缺陷检测更具优势

· 成像不受光源(或环境光)色温影响

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其他竞品成像方案:使用彩色CCD芯片+白色光源

· 色彩是通过插补形成的,而非真彩色 

· 红、蓝感光像素数占25%,相当于6百万

· 绿感光像素数占50%,相当于1千2百万

· 色彩不够瑞丽,色域范围有限

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成像效果&优劣势对比


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方案

三色光+黑白相机单色光+彩色相机
拍照数量3张照片1张照片
CT(拍照+处理)850ms

600ms

处理方式(颜色、外形、图形、缺陷)

同步处理,CT不随检测项目增加

串行处理,种类增加CT增加

算法颜色瑞丽,分选准确:红光下表面沾污易检测(例如水纹印)

颜色呈现不够瑞丽,轻微表面沾污无法识

工艺便捷性产品切换无需更改底层算法产品切换需更改底层算法


设备参数


项目规格

设备尺

长430mm宽390mm高780mm
适用Wafer尺寸156*156mm- 170*170mm
适用Wafer类型

单晶、多晶,金刚线单晶、多晶,PERC电池片

产能高达3800PCS/小时
正面相机像素/解析度2500万,34um
背面相机像素/解析度

2000万,48um(方便产品升级可选2500万配置)

UPTime>99%
误判率低至<1%

漏报率

低至<0.1

碎片率

0%


检测项目缺陷类型
尺寸测量

边长、弯曲、对角线等

破损检测破损、崩边、缺角、栅线破损、裂纹等
印刷偏移含整体偏移、栅线偏移、主栅偏移等
栅线检测

含断栅、变细、变粗、扭曲、虚印等

脏污检测含指纹、水印、丝网脏污等
色斑检测亮蓝色斑、小斑点、白斑、暗红色斑、漏浆、指印、滴油、未镀膜、扩散舟印、刻蚀色斑等
线痕检测栅线上类似划痕的缺陷出现位置栅线变粗
过刻检测产品表面刻蚀过度造成暗黄或暗红色差
色差检测单片色差、黑丝片、花片、明暗片、片内色差


检测项目

缺陷类型

尺寸测量边长、弯曲、对角线等
电极偏移

含上下偏移、左右偏移等

电极检测含电极缺失、破损、翘起等
脏污检测含污点、指纹、油污等
色斑检测黄斑、斑块等
色差检测片内色差、发黄等



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